نمذجة تأثيرات الإجهاد الكهربي الزائد في نبائط السليكون – فوق- العازل

خالد محمد أمين محمد عبد المنعم زايد;

Abstract


تتكبد صناعة الالكترونيات الدقيقة ملايين الدولارات سنويا نتيجة انهيار بعض المكونات الالكترونية بسبب تعرضها للاجهاد الكهربي الزائد. هذا الانهيار يؤدي الى تلف الكروت الالكترونية العصب الاساسي في تشغيل جميع الاجهزة الالكترونية وبالتالي يؤدي الى ضياع او تدمير


Other data

Title نمذجة تأثيرات الإجهاد الكهربي الزائد في نبائط السليكون – فوق- العازل
Authors خالد محمد أمين محمد عبد المنعم زايد
Keywords نمذجة تأثيرات الإجهاد الكهربي الزائد في نبائط السليكون – فوق- العازل
Issue Date 2006
Description 
هذه الرسالة تتناول فرع من فروع الدراسات اللغوية ،الاوهو علم المعاجم الذى يعتبر فرعاًمن فروع علم اللغة التطبيقى وبالتحديد دراسة معجمين مهمين فى اغتيهما ألا وهما معجم (صحاح الفارسى)للنخوانى،ومعجم (صحاح العربية)للجوهرى،ونظراًالان اللغة الفارسية ليست من نفس أ

Recommend this item

Similar Items from Core Recommender Database

Google ScholarTM

Check



Items in Ain Shams Scholar are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.